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台式X荧光光谱仪能量色散X荧光光谱仪

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 产品特点

台式X荧光光谱仪能量色散X荧光光谱仪:


台式X荧光光谱仪能量色散X荧光光谱仪融合经验系数法、基本参数法(FP法)等分析方法,测试数据的准确性能得到全面保证。


台式X荧光光谱仪能量色散X荧光光谱仪经验系数法:仪器依据对标准样品的测定,确定影响系数。对标准样品要求高,需和待测样品类型相近,校正模型简单。


台式X荧光光谱仪能量色散X荧光光谱仪 基本参数法(FP法):仪器根据实际检测物质,通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高,计算较复杂,适合缺少对应标样的物质检测。 


软件功能


元素含量分析范围为2 PPm到99.99%

 采用BG内标校正,提高非定性式样测量精度

 用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法

 全自动定量分析报告 简捷准确

 自适应初试化校正

光谱的自动获取和显示。

具有自动检测仪器工作状态的功能。

自动判别样品及自动分析。提供扩展接口,进一步作其他元素分析,从钙到铀元素。


硬件

美国进口Si-PIN探测器,高速脉冲高度分析系统

美国SPELLMAN高压发生器

美国进口前置放大器,与美国进口探测器兼容性好

美国进口主放大器,与美国进口探测器兼容性好

美国进口AD转换模块,与美国进口探测器兼容性好


尺寸&重量

550(W)×450(D)×450(H)mm

60Kg(主机部分)


电源与环境要求

电源:220V±10%   50Hz

环境温度:10℃-28℃

环境湿度: ≤70 %RH(25℃室温) 

台式X荧光光谱仪能量色散X荧光光谱仪:

无损检测

在无标准样品时亦可准确分析

测量时间比化学方法短,不需要辅助材料

计算机进行数据处理,分析快速准确

高分辨率图形即时显示,由不同色块加以判断区分

硅半导体探测器

元素含量分析范围为2 PPm到99.99%

采用BG内标校正,提高非定性式样测量精度

全自动定量分析报告 简捷准确

自适应初试化校正

光谱的自动获取和显示

具有自动检测仪器工作状态的功能

自动判别样品及自动分析



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